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SOI Stacked Transistors Tolerance to Single-Event Effects
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Data
2019
Autor
PERIN, ANDRE L.
PEREIRA, ARIANNE S. N.
BUHLER, RUDOLF T.
DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.
GIACOMINI, RENATO C.
Metadata
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URI
https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1480
Collections
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