SOI Stacked Transistors Tolerance to Single-Event Effects

Ver/

Fecha

2019

Autor

PERIN, ANDRE L.

PEREIRA, ARIANNE S. N.

BUHLER, RUDOLF T.

DA SILVEIRA, MARCILEI A. G.

GIACOMINI, RENATO C.

Metadatos

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URI

https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1480

Colecciones

Documentos - CUFEI