Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos

dc.creator	Petrashin, Pablo Antonio dir.
dc.date	2016-03-01
dc.date.accessioned	2022-09-21T22:00:10Z
dc.date.available	2022-09-21T22:00:10Z
dc.identifier	http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.12032/43937
dc.description	El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.
dc.description	Fil: Petrashin, Pablo Antonio. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina
dc.format	application/pdf
dc.language	spa
dc.relation	http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/
dc.rights	info:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.source	Petrashin, Pablo Antonio dir. ORCID: https://orcid.org/0000-0003-2607-6196 <https://orcid.org/0000-0003-2607-6196> (2016) Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos. [Proyecto de investigación]
dc.subject	TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
dc.title	Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos
dc.type	info:eu-repo/semantics/other
dc.type	info:ar-repo/semantics/proyecto de investigación
dc.type	info:eu-repo/semantics/acceptedVersion

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