Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos

dc.creator	Petrashin, Pablo Antonio dir.
dc.date	2016-03-01
dc.identifier	http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf
dc.description	El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.
dc.format	application/pdf
dc.language	spa
dc.relation	http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/
dc.rights	info:eu-repo/semantics/closedAccess
dc.source	Petrashin, Pablo Antonio dir. ORCID: https://orcid.org/0000-0003-2607-6196 <https://orcid.org/0000-0003-2607-6196> (2016) Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos. [Proyecto de investigación]
dc.subject	TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear
dc.title	Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos
dc.type	proyecto_de_investigacion

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