Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos
Descripción
El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.Fil: Petrashin, Pablo Antonio. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina