The Influence of Back Gate Bias on the OCTO SOI MOSFET?s Response to X-ray Radiation

Ver/

Fecha

2015

Autor

DE SOUZA FINO, LEONARDO NAVARENHO

Gimenez, S. P.

RENAUX, C.

FLANDRE, DENIS

GUAZZELLI DA SILVEIRA, MARCILEI APARECIDA

Metadatos

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URI

https://hdl.handle.net/20.500.12032/40972

Colecciones

Documentos - CUFEI