| dc.contributor.advisor | Giacomini, R. | |
| dc.contributor.author | Madeira, Frederico Marion | |
| dc.date.accessioned | 2019-03-20T14:00:53Z | |
| dc.date.accessioned | 2023-05-03T20:39:19Z | |
| dc.date.available | 2019-03-20T14:00:53Z | |
| dc.date.available | 2023-05-03T20:39:19Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.identifier.citation | MADEIRA, Frederico Marion. <b> Estudo comparativo entre tecnologias CMOS, NMOS e SOI em um circuito de APS. </b> 2012. 116 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2012 Disponível em: <http://sofia.fei.edu.br/tede/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=267>. Acesso em: 21 set. 2012. | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/89750 | |
| dc.language | por | |
| dc.language.iso | pt_BR | |
| dc.publisher | Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo | |
| dc.subject | Semicondutores complementares de óxido metálico | |
| dc.subject | Teste de penetração no solo | |
| dc.title | Estudo comparativo entre tecnologias CMOS, NMOS e SOI em um circuito de APS | pt_BR |
| dc.type | Dissertação | pt_BR |
