Pruebas automáticas a microcontroladores en NXP Semiconductors Guadalajara
| dc.contributor.author | Martín-Martínez, Jorge A. | |
| dc.date.accessioned | 2018-06-29T17:14:20Z | |
| dc.date.accessioned | 2023-03-21T16:19:33Z | |
| dc.date.available | 2018-06-29T17:14:20Z | |
| dc.date.available | 2023-03-21T16:19:33Z | |
| dc.date.issued | 2017-12 | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/73568 | |
| dc.language.iso | spa | es |
| dc.publisher | ITESO | es |
| dc.rights.uri | http://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-2.5-MX.pdf | es |
| dc.subject | Vinculación NXP, Diseño y Pruebas | es |
| dc.subject | Diseño de Dispositivos, Circuitos y Sistemas Electrónicos | es |
| dc.subject | Desarrollo Tecnológico y Generación de Riqueza Sustentable | es |
| dc.title | Pruebas automáticas a microcontroladores en NXP Semiconductors Guadalajara | es |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis | es |
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