Show simple item record

dc.contributor.authorMartínez-Guerrero, Esteban
dc.date.accessioned2013-06-14T15:34:30Z
dc.date.accessioned2023-03-10T18:12:00Z
dc.date.available2013-06-14T15:34:30Z
dc.date.available2023-03-10T18:12:00Z
dc.date.issued2003-09-30
dc.identifier.citationE. Martínez-Guerrero, Modelo de corriente de fuga en estructuras de unión p-n fabricados a base de nitruros del grupo III en fase cubica, memorias, congreso CIE-2003es
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.12032/71512
dc.descriptionMediante mediciones de SIMS, encontramos evidencia de difusión de impurezas residuales hacia el bulto de películas de GaN cubico no intencionalmente dopadas. El análisis de imágenes de espectroscopía de masas de iones secundarios (SIMS) revela que la difusión es propiciada por las fallas de apilamiento. La profundidad a la que las impurezas residuales difunden, concuerda con la distancia a la que la densidad de fallas de apilamiento alcanza su valor mínimo. Mediciones de microscopía electrónica en transmisión (TEM) muestran una alta densidad de fallas de apilamiento en las zonas de contacto ohmico de diodos de unión p-n fabricados con GaN cúbico. De acuerdo con datos reportados en la literatura que indican conducción parásita a través de defectos estructurales y con base en estos resultados, se propone un modelo de corriente de fuga en diodos de unión p-n de GaN cúbico que degradan su desempeño y/o provocan su falla.es
dc.description.sponsorshipITESO, A.C.es
dc.description.sponsorshipConsejo Nacional de Ciencia y Tecnologíaes
dc.language.isospaes
dc.publisherConference on Eletrical Engineeringes
dc.relation.ispartofseriesConference on Eletrical Engineering;s/n
dc.rights.urihttp://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-2.5-MX.pdfes
dc.subjectGaN P-N Junctionses
dc.subjectI-V Leackage Current Modeles
dc.titleModelo de corriente de fuga en estructuras de unión p-n fabricados a base de nitruros del grupo III en fase cubicaes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/conferencePaperes


Files in this item

FilesSizeFormatView
CIE-117-2003.pdf926.9Kbapplication/pdfView/Open

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record


© AUSJAL 2022

Asociación de Universidades Confiadas a la Compañía de Jesús en América Latina, AUSJAL
Av. Santa Teresa de Jesús Edif. Cerpe, Piso 2, Oficina AUSJAL Urb.
La Castellana, Chacao (1060) Caracas - Venezuela
Tel/Fax (+58-212)-266-13-41 /(+58-212)-266-85-62

Nuestras redes sociales

facebook Facebook

twitter Twitter

youtube Youtube

Asociaciones Jesuitas en el mundo
Ausjal en el mundo AJCU AUSJAL JESAM JCEP JCS JCAP