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Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas.
| dc.creator | Petrashin, Pablo Antonio | |
| dc.creator | Toledo, Luis Eduardo | |
| dc.creator | Vázquez, Carlos Daniel | |
| dc.creator | Lancioni, Walter José | |
| dc.date | 2014 | |
| dc.date.accessioned | 2022-09-21T21:59:02Z | |
| dc.date.available | 2022-09-21T21:59:02Z | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/43211 | |
| dc.description | En este proyecto se propone: 1- Formular y analizar los problemas actuales en las técnicas de inyección de fallas para estimar SER (Single Event Response) en los circuitos integrados, aplicandolas luego para evaluar la tolerancia a fallos de diferentes circuitos integrados analógicos/digitales. El objetivo general que se persigue es proporcionar una solución que permita realizar, de forma rápida, eficaz y a bajo costo, la inyección de fallos en los circuitos analógicos y digitales. 2- Estudiar una aproximación no intrusita de detección de fallos en CI, combinando técnicas de hardware y software para detectar errores transitorios en circuitos analógicos y digitales. Este tipo de fallos transitorios tienen una influencia importante en sistemas de microprocesadores, que afectan al flujo de datos y a la etapa de control. Con el fin de proteger el sistema, un módulo de hardware orientado a la aplicación se generará automáticamente, reconfigurándose en el sistema durante el tiempo de ejecución. Cuando se combina esto con técnicas de tolerancia a fallas basadas en programación (Software), esta solución ofrece una protección total del sistema contra fallos transitorios. La campaña de inyección de fallas se planea realizar en un microprocesador MIPS, ejecutando algún programa de evaluación, con ayuda de una plataforma genérica y versátil desarrollada en TIMA (Francia). 3- Comparar los resultados obtenidos del estudio de las técnicas de inyección con los resultados experimentales, a partir de ensayos de radiación (aceleradores de partículas, micro rayos, etc.) al exponer a los circuitos a posibles fuentes de fallas. | |
| dc.relation | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/238/ | |
| dc.source | Petrashin, Pablo Antonio ORCID: https://orcid.org/0000-0003-2607-6196 <https://orcid.org/0000-0003-2607-6196>, Toledo, Luis Eduardo, Vázquez, Carlos Daniel and Lancioni, Walter José (2014) Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas. [Proyecto de investigación] | |
| dc.subject | T Tecnología (General) | |
| dc.subject | TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear | |
| dc.title | Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas. | |
| dc.type | Proyecto | |
| dc.type | NonPeerReviewed |
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