Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos
| dc.contributor.advisor | Pavanello, M. A. | |
| dc.contributor.author | Silva Júnior, J. M. | |
| dc.date.accessioned | 2019-03-20T14:01:00Z | |
| dc.date.available | 2019-03-20T14:01:00Z | |
| dc.date.issued | 2009 | |
| dc.identifier.citation | SILVA JÚNIOR, J. M. <b> Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos. </b> 2009. 96 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo, 2009 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/486 | |
| dc.language | por | |
| dc.language.iso | pt_BR | |
| dc.publisher | Centro Universitário da FEI, São Bernardo do Campo | |
| dc.subject | Baixas temperaturas | |
| dc.subject | Tecnologia de silício sobre isolante | |
| dc.title | Estudo do efeito de redução de barreira induzida pelo dreno em temperaturas criogênicas para transistores SOI ultra-submicrométricos | pt_BR |
| dc.type | Dissertação | pt_BR |
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