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Confiabilidade de dispositivos CMOS submetidos à radiação e campo magnético
(Centro Universitário FEI, São Bernardo do Campo, 2016)
Neste trabalho, foi analisado o efeito da incidência de uma partícula ionizante em um transistor e em associações de transistores. Foi realizada, também, a comparação de leiautes distintos de transistores e de associações. ...