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Efeito de eventos únicos em transistores MOS: classificação dos eventos via redes neurais profundas
(Centro Universitário FEI, São Bernardo do Campo, 2020)
Dispositivos eletrônicos são suscetíveis a defeitos causados por radiação ionizante, e o uso destes dispositivos é cada vez mais requisitado em aplicações embarcadas que operam em ambientes agressivos (presença de radiação) ...