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Estudo do efeito NBTI em transistores MOS sem junções
(Centro Universitário FEI, São Bernardo do Campo, 2018)
No presente trabalho, a degradação por efeito NBTI (Negative Bias Temperature Instability) foi analisada em transistores MOS sem junções (JNTs) com canal tipo P. O efeito NBTI incide sobre a confiabilidade dos dispositivos, ...