| dc.contributor.advisor | Bracamontes-Salazar, Rigoberto | |
| dc.contributor.author | Martín-Martínez, Jorge A. | |
| dc.date.accessioned | 2026-01-26T18:20:24Z | |
| dc.date.accessioned | 2026-04-28T16:07:40Z | |
| dc.date.available | 2026-01-26T18:20:24Z | |
| dc.date.available | 2026-04-28T16:07:40Z | |
| dc.date.issued | 0025-12 | |
| dc.identifier.citation | Martín-Martínez, J. A. (2025). Metodología de optimización de análisis de fallas en microprocesadores i.MX93/91. Trabajo de obtención de grado, Maestría en Diseño Electrónico. Tlaquepaque, Jalisco: ITESO. | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/187548 | |
| dc.description.abstract | El presente caso de estudio, titulado "Metodología de optimización de análisis de fallas en microprocesadores i.MX93/91", tiene como objetivo principal optimizar la detección de fallas y reducir los tiempos de diagnóstico en esta nueva familia de microprocesadores en NXP, incorporando la experiencia obtenida en generaciones anteriores. Para ello, se desarrolló un conjunto integral de pruebas que incluye inspección óptica, X-RAY, inspección acústica, comunicación por puerto serial, evaluación de periféricos, revisión de configuraciones de seguridad, pruebas funcionales con diferentes configuraciones disponibles y pruebas de comunicación con memorias DDR. Además, se implementaron pruebas eléctricas y procedimientos de reboleo, compartiendo este conocimiento de forma global para su aplicación en distintos entornos.
La metodología empleada fue de tipo mixta, combinando investigación cualitativa basada en experiencias previas con microprocesadores perteneciente a esta gama de componentes, y análisis cuantitativo para identificar patrones y comportamientos comunes entre distintas familias. Esta combinación permitió diseñar un procedimiento más eficiente para el manejo y análisis de componentes sospechosos de falla.
La mayoría de las fallas presentes en tecnologías anteriores pueden migrar a nuevas generaciones si no se analizan adecuadamente. Por ello, este caso de estudio propone un enfoque preventivo y sistemático que fortalece los procesos de verificación y análisis de fallas.
Finalmente, las pruebas desarrolladas tienen aplicación directa en el entorno laboral del autor, especialmente en la industria automotriz, donde la confiabilidad de los sistemas electrónicos es crítica para la seguridad y el desempeño de los vehículos. | |
| dc.language.iso | spa | |
| dc.publisher | ITESO | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc/4.0/deed.es | |
| dc.subject | I.MX93 | |
| dc.subject | NXP | |
| dc.subject | Análisis de Fallas | |
| dc.subject | Pruebas Funcionales | |
| dc.subject | Metodología | |
| dc.title | Metodología de optimización de análisis de fallas en microprocesadores i.MX93/91 | |
| dc.title.alternative | Methodology for Optimizing Failure Analysis in Microprocessors i.MX93/91 | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | |
| dc.type.version | info:eu-repo/semantics/publishedVersion | |
