| dc.contributor.advisor | Zatarain-Hernández, Juan P. | |
| dc.contributor.author | González-Vázquez, José F. | |
| dc.date.accessioned | 2023-06-28T19:21:05Z | |
| dc.date.accessioned | 2024-02-27T18:50:56Z | |
| dc.date.available | 2023-06-28T19:21:05Z | |
| dc.date.available | 2024-02-27T18:50:56Z | |
| dc.date.issued | 2020-05 | |
| dc.identifier.citation | González-Vázquez, J. F. (2020). Análisis, diseño e implementación del modelo para el control y reducción de inventarios en unidades de alta complejidad en manufactura electrónica. Trabajo de obtención de grado, Maestría en Administración. Tlaquepaque, Jalisco: ITESO. | es_MX |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/122646 | |
| dc.description | El inventario de unidades con defecto para la industria de manufactura electrónica representa un riesgo latente de posible daño catastrófico y una alta probabilidad de que si estas unidades no se reparan a través del tiempo, se hagan obsoletas y, por lo tanto, un riesgo potencial de tirarse a la basura.
El proyecto se desarrolló basado en el análisis de las mejores prácticas de las plantas de Sanmina en México. A través de un análisis de 6M’s, se estructuraron los métricos y puntos de control y a partir de este fue desarrollado el modelo de diagnóstico basado en la metodología DMAIC.
El inventario se genera cuando se liberan las tarjetas a producción en serie, y las pruebas de funcionalidad y los procesos de manufactura no se encuentran estables, generando defectos reales de proceso y fallas aparentes en sus pruebas. Esta intermitencia en las pruebas y los procesos provocan inventarios de unidades con defecto que se acumulan a través del tiempo.
Los inventarios se acumulan principalmente en las pruebas en circuito, por ser un filtro de prueba a nivel componente. La segunda estación es la prueba de funcionalidad donde dependiendo del nivel de stress al que se exponga pueden fallar en distintas etapas de la prueba.
Las unidades fallan por algún problema de soldabilidad en los componentes, debido a un problema de diseño electrónico o en su defecto por una inestabilidad en el desarrollo de las pruebas de funcionalidad. En otros casos es debido a que los componentes seleccionados no cumplen con las especificaciones y requerimientos que la unidad misma demanda para funcionar correctamente.
Estas pruebas se realizan para asegurar que las unidades trabajen dentro de los parámetros para los cuales fueron diseñadas, como por ejemplo velocidad de comunicación, transferencia de información, grado de distorsión de audio o nitidez de la imagen. Con estas pruebas se asegura la calidad del producto.
El resultado fue el modelo de diagnóstico basado en el análisis de 6M’s y la metodología DMAIC. Todo este sistema está enfocado en la reducción de Inventario, y una vez llegada la meta, mantener el inventario bajo control. | es_MX |
| dc.description.sponsorship | ITESO, A.C. | es |
| dc.language.iso | spa | es_MX |
| dc.publisher | ITESO | es_MX |
| dc.rights.uri | http://quijote.biblio.iteso.mx/licencias/CC-BY-NC-2.5-MX.pdf | es_MX |
| dc.subject | Analisis de falla | es_MX |
| dc.subject | Control de Inventarios | es_MX |
| dc.subject | Manufactura Electrónica | es_MX |
| dc.subject | Ingeniería de Pruebas | es_MX |
| dc.title | Análisis, diseño e implementación del modelo para el control y reducción de inventarios en unidades de alta complejidad en manufactura electrónica | es_MX |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | es_MX |
