| dc.creator | Petrashin, Pablo Antonio dir. | |
| dc.date | 2016-03-01 | |
| dc.date.accessioned | 2022-09-21T22:00:10Z | |
| dc.date.available | 2022-09-21T22:00:10Z | |
| dc.identifier | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/1/PI_Petrashin.pdf | |
| dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.12032/43937 | |
| dc.description | El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS. | |
| dc.description | Fil: Petrashin, Pablo Antonio. Universidad Católica de Córdoba. Facultad de Ingeniería; Argentina | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.relation | http://pa.bibdigital.ucc.edu.ar/999/ | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/ | |
| dc.source | Petrashin, Pablo Antonio dir. ORCID: https://orcid.org/0000-0003-2607-6196 <https://orcid.org/0000-0003-2607-6196> (2016) Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos. [Proyecto de investigación] | |
| dc.subject | TK ingeniería eléctrica. Ingeniería electrónica nuclear | |
| dc.title | Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/other | |
| dc.type | info:ar-repo/semantics/proyecto de investigación | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/acceptedVersion | |
